菲希爾XAN215 fischer代理的詳細(xì)資料：

菲希爾XAN215 fischer代理

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 產(chǎn)品介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 是一款專為珠寶、錢幣和貴金屬等領(lǐng)域打造的入門級能量色散型 X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，可實(shí)現(xiàn)無損檢測。其憑借先進(jìn)的能量色散型 X 射線熒光光譜法（EDXRF），能精準(zhǔn)分析貴金屬及其合金成分，并精確測量鍍層厚度。

核心性能

元素分析范圍：可覆蓋從氯（17 號元素）到鈾（92 號元素），支持同時測定多達(dá) 24 種元素。

測量重復(fù)性：對金元素進(jìn)行 60 秒測量，重復(fù)性誤差≤1‰ 。

產(chǎn)品設(shè)計(jì)

儀器形態(tài)：臺式設(shè)計(jì)，測量門向上開啟，操作便捷。

測量方向：采用由下往上的測量方式。

硬件配置

X 射線源：配備帶鈹窗口的鎢靶射線管，高壓設(shè) 30KV、40KV、50KV 三檔，孔徑（準(zhǔn)直器）默認(rèn) φ1mm，也可按需選擇 φ2mm 規(guī)格。當(dāng)測量距離 MD=0mm 時，測量點(diǎn)直徑為孔徑直徑 + 200μm 。

X 射線探測：搭載珀耳帖法冷卻的 Si-PIN 接收器，能量分辨率（Mn 元素 Kα 半高寬）≤180eV ，測量距離范圍在 0 - 10mm 。通過受保護(hù)的 DCM 測量距離補(bǔ)償法，在不同測量距離下無需重新校準(zhǔn)即可測量；不過針對特殊應(yīng)用或高精度測量需求，可能需額外校準(zhǔn)。

樣品定位：采用手動放置樣品的方式，方便靈活。